


产品简介:
COC测试机用于COC/COS封装形式的 DFB、EML、SOA 芯片的常温、高温下的 LIV 综合测试和光谱测试,支持 us 级直流/脉冲的输出与测试,该设备支持双工位测试、机械手全自动上下料。
产品特性:
弹匣式自动上下料,可装载20个COC鱼骨夹具,共640个COC
48/32位COC夹具同时适配于老化机和金线机
双平台设计,节约上下料和控温等待时间
TEC控温(20~100℃),满足控温精度及稳定度
支持LIV和光谱测试
支持背光功率测试功能
技术参数:
类别 |
项目 |
指标 |
PIV |
输出电流范围 |
0~3000mA |
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输出电流精度 |
0.1%+100uA |
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扫描步长 |
10uA |
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扫描时间 |
<4 ms/点 |
光谱 |
光路耦合时间 |
单模光纤<8s |
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光路耦合功率 |
> -20dBm (透镜+多模光纤) |
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波长重复性 |
±0.1nm |
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光谱测试时间 |
<2s |
温度特性 |
控温方式 |
TEC |
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控温范围 |
20~100℃ |
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温度一致性 |
±1℃ |
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温度稳定性 |
±0.5℃ |

咨询热线: 134 1757 6705

联系人: 刘小姐

网 址: www.chengkunyq.com

地 址: 广东省深圳市龙岗区深圳市光明新区光明街道
光明大街323号
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