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COC测试机
COC测试机
​COC测试机用于COC/COS封装形式的 DFB、EML、SOA 芯片的常温、高温下的 LIV 综合测试和光谱测试,支持 us 级直流/脉冲的输出与测试,该设备支持双工位测试、机械手全自动上下料。

COC测试机

 详情说明

产品简介:

COC测试机用于COC/COS封装形式的 DFB、EML、SOA 芯片的常温、高温下的 LIV 综合测试和光谱测试,支持 us 级直流/脉冲的输出与测试,该设备支持双工位测试、机械手全自动上下料。

产品特性:

弹匣式自动上下料,可装载20个COC鱼骨夹具,共640个COC

48/32位COC夹具同时适配于老化机和金线机

双平台设计,节约上下料和控温等待时间

TEC控温(20~100℃),满足控温精度及稳定度

支持LIV和光谱测试

支持背光功率测试功能

技术参数:

类别

项目

指标

PIV

输出电流范围

0~3000mA

 

输出电流精度

0.1%+100uA

 

扫描步长

10uA

 

扫描时间

<4 ms/点

光谱

光路耦合时间

单模光纤<8s
多模光纤<1s

 

光路耦合功率

> -20dBm (透镜+多模光纤)

 

波长重复性

±0.1nm

 

光谱测试时间

<2s

温度特性

控温方式

TEC

 

控温范围

20~100℃

 

温度一致性

±1℃

 

温度稳定性

±0.5℃

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